破局良率瓶颈：陶瓷平板微裂纹的无损检测

无论是细微的裂纹延伸、气孔还是内部夹杂，高分辨的影像系统都能呈现清晰的细节。特别是针对高价值的功率器件基板，这不仅挽救了昂贵的封装材料成本，更守住了企业的质量信誉底线。

工业级高精度检测设备，实现半导体陶瓷平板的快速、高清无损穿透成像。

在实际的检测场景中，当射线穿透存在裂纹的陶瓷平板时，由于裂纹处（空气隙）的密度远低于陶瓷基材，X射线的衰减量变小，在探测器上就会形成高对比度的锐利阴影线。通过调整图像增强和滤波算法，即可精准判定裂纹的长度、走向及分布位置。

真实检测案例：高对比度影像下，隐蔽在陶瓷平板内部的微裂纹清晰可见。